电子分析天平-XS105DU产品参数
量 程： 41/120g
精 度： 0.01/0.1mg
称盘尺寸： 78×73mm
线 性： ±0.2mg
外型尺寸： 263×453×322mm
电子分析天平-XS105DU产品用途
本产品适用于各地研究所和实验室
电子分析天平-XS105DU主要特点
1.采用高精度、高分辨率后置式传感器，获得准确称量结果
2.全自动校准技术（FACT） - 温度漂移触发的天平自动内校，内置两组砝码实现线性误差校准，确保称量结果的准确性
3.变量程专利设计（DeltaRange）和双量程（DualRange）设计，满足客户对不同样品的称量需求
4.革命性的网格称量盘（SmartGrid）、悬浮在称量室中的后挂称量设计，获得快速、稳定的称量结果
5.易巧称量组件（ErgoClips），方便客户使用不同去皮容器进行称量
6.触摸屏技术（Touch screen），方便天平称量菜单和参数设置
7.可移动的显示控制终端，方便天平使用
8.完全可拆卸的防风罩设计，实现天平的快速清洁
9.内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备
10.优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
11.具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序
12.e-Loader II软件，实现更便捷的天平软件更新
(1)按照OIML76标准 （2）温度范围10—30 (3)灵敏度漂移/年（天平首次使用后），激活FACT全自动校准技术 (4)包括样品处理时间设置